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BKTEM-Dx 热电材料塞贝克系数测试仪

北京精科智创科技发展有限公司
会员指数: 企业认证:         

价格:电议

所在地:北京

型号:BKTEM-Dx

手机:18210063398

电话:010-60414386

更新时间:2024-04-11

浏览次数:3267

公司地址:北京顺义北小营

18210063398   谢经理(先生)   (来电时请说是从仪器交易网看到我的)

产品简介

BKTEM-Dx热电材料性能测试仪,热电材料塞贝克系数测试仪关键词:热电材料,Seebeck系数,电导率, 电导率,V-1装置产品介绍:

公司简介

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备,我们同中国科学院,北京科技大学,清华大学,上海交通大学,北京航空航天大学等建立了合作和研究中心,目前我们主要在安全控制设备,计量检测设备,科学材料研究设备,3D打印及空间技术的研发和销售,我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作,服务于国内和国外广大客户,我们将提供优质产品,优质服务,共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品:

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一表征:压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片)

2、PZT-JH10/8压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)

3、PZT-JH20/8高压电极化装置(20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)

4、PZT-FJH20  /3高压真空,空气极化装置(20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样)

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1ZT-4C型综合铁电测量系统

2JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统,常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统,高温介电材料测试装置


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第四表征磁性材料测试系统


展开

产品说明

 

BKTEM-Dx热电材料性能测试仪,ink?url=UN3e5RD3rbIpDKa47MlvqL2ln8jhJ-lujVK-XPrQ1hcsBKqQrmov3FGHiJ9jrl_ZzYfwf0m-TprEJOsiAqm0aK&wd=&eqid=d07bcbc000027d06000000025937c067" target="_blank">热电材料克系数测试仪

关键词:热电材料,Seebeck系数,电导率, 电导率,V-1装置

产品介绍:

 BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是我国热电材料的领军设备,是材料计

划中前沿装备,是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料

测试仪,其测试性能远超越外热电材料测试仪,不仅可以用于块体材

料同时也可以用于薄材料的测试,是目前高等院校和材料研究所的重要设

备。

对于热电材料的研究,热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:

该装置由,高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

一、适用范围:

1、地测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,TeBi2Te3ZrNiSnZnAgSbNiMoSbSnTeFeNbSbCuGaTe2GeTeAg1-xCuSCu2ZnSnSe4)Seebeck系数及电导率、电阻率。

3、块体和薄膜材料测均可以测试。

4试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。

5、拥有自身分析软件,分析,过程自动控制,界面友好。

6、高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。

7汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8
、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域.

二、技术特点:

·解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。

·     温度检测可采用JK型热电偶,降低测试成本。

·试样采用独特的焊偶机构,保证接触电阻zui小以及测量结果的高重现性。

·     每次可测试1-3个样品.

·     采用数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。

三、主要技术参数:

BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

测量温度

室温-600

室温-600

室温-600

同时测试样品数量

1

2

3

控温精度

0.5K(温度波动:≤±0.1℃)

测量原理

塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法

测量范围

塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率

塞贝克系数:10nV/K;电阻系数: 10nOhm

测量精度

塞贝克系数:<±6%;电阻系数:<±5

样品尺寸

块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:50 nm

热电偶导距

6 mm

  

0 to 160 mA

  

减压He

加热电相数/电压

单相,220V

夹具接触热阻

≤0.05 m2K/W


1 单一样品测试系统原理示意图

2 双样品测试系统原理示意图


本页产品地址:http://www.yi7.com/sell/show-7152774.html
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