ZEM-3热电性能分析系统

ZEM-3热电性能分析系统技术特点： · 温度检测采用R型热电偶· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性· 采用数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

ZEM-3热电性能分析系统

 

技术特点：

 

· 温度检测采用R型热电偶

· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表

· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)

· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性

· 采用数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差

 

 

	ZEM-L	ZEM-LS	ZEM-3M8	ZEM-3M10
测量温度	-80℃-100℃	-100℃-500℃	RT-800℃	RT-1000℃
控温精度	±0.5K
测量原理	塞贝克系数：静态直流电；           电阻系数：四端法
测量范围	塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K；       电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率	塞贝克系数：10nV/K；               电阻系数： 10nOhm
测量精度	塞贝克系数：＜±７％；         电阻系数：＜±10％
样品尺寸	直径或正方形：2 to 4 mm2   ×6 to 23mm长
热电偶导距	4,6,8 mm （或定制）
电   流	0 to 160 mA
气   氛	减压He

 

 

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