ZEISS T-SCAN 蔡司ZEISS T-SCAN 手持式三维扫描仪

产品详情 Product Information

         由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用，使得快速、直观和高度的3D扫描在坐标测量技术中进入全新的高度。革新且一体化的设计理念，包括匹配的辅助装置（跟踪仪、手持式扫描仪和接触式测头），为种类繁多的应用提供了zui大的灵活性。高性能的软件平台colin3D能够在整个测量过程中，始终如一地保持并始终坚持以项目为导向的操作过程。

面向用户的、人性化的系统设计和易于操作的数据采集

         ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。可根据操作者的需求量身定制，保证了扫描过程直观、无疲劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头，该系统非常适合于数据捕获，即使难以到达的区域也不例外。

        的技术特性，例如，针对各种对象的表面进行高动态范围内的数据采集，而其所具有的迄今不可见的数据速率可以达到无可比拟的扫描速度并得到的测量结果。

手持式测头进行快速点测量

        ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量点，使其成为在物体区域内进行单点测量的解决方案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快速。

动态参考

         即使在移动的物体上也能得到高的三维数据记录，通过采用动态参考功能，在恶劣的环境条件下可以执行测量工作，如振动（生产环境中，例如冲压车间或

加工部件：对移动车门的密封进行测量）。

通用软件接口

        从数据采集到数据处理，至数据比较 - ZEISS T-SCAN系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此，可以轻松集成到现有的工艺流程中。

用于不同的测量体积的光学跟踪系统

        从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”，为您的个人测量应用提供理想解决方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性、ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪

        ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进行优化匹配，因此开辟了广泛的测量应用领域。

        高的数据处理速率使测量具有zui高的速度，有利于zui大限度地减少物体扫描过程的时间。

通过采用创扫描和跟踪相结合的独特大范围测量，您将在光学三维数字化中获得全新的视角。

        现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据-手持式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围，为您进行有效的测量处理提供zui大可能的运动自由。

主要技术参数