S100 直流参数测试SMU源表

直流参数测试SMU源表对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高300V，电流低至100pA；支持USB存储

武汉普赛斯仪表自主研发的台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等，填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。

武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成行业标杆。

普赛斯仪表www.whpssins.com

武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括：华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等，公司旨在为光电器件生产企业提供服务，针对产线生产的痛点问题，模拟现实应用环境，进行半导体光器件性能指标生产监测和测试，实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点，从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。

 

直流参数测试SMU源表优势

• 性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖3pA-3A的电流范围100μV-300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。

• 灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

• 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。详询一八一四零六六三四七六；

 

 

 

多合一高精密SMU，J致简化测量

统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的，需要多种仪器配合完成测试，对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析，既复杂又耗时，还需占用大量测试台空间。

S系列数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载，其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间，同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”，降低购买测试系统的整体成本。

 

 

 

四象限工作，可以作为源或负载

电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。D一、三象限即电压电流同向，源表对其它设备供电，称为源模式；第二、四象限即电压电流反向，其它设备对源表放电，源表被动吸收流入的电流，且可为电流提供返回路径，称为阱模式。

 

 

与传统矩阵电源不同，S系列源表在同等功率下，客户可根据实际需求，选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同，S系列源表的源/阱极限也有区别。

源限度-电压源:

士10V  (≤3A量程)，土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-电流源:

土3.15安(≤10V量程)，土1.05安(≤30V量程)，士105mA (≤300V量程)

 

 

轻松满足常用的测量需求

触摸屏幕上的任意图标，就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置，操作更直观。

 

 

 

提供的应用程序

-   序列扫描

-   自定义序列

-   数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式

-   APD管

-   晶体管：MOSFET管测试；三极管测试

-   LIV：PIN管扫描测试

-   Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描

 

*二极管完整l-V特性曲线

 

源表应用领域：

分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；

 

选择武汉普赛斯仪表的理由

武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用，SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，直流更大、精度更高、准确度提升至0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加晶准、稳定的测试方案

 

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