SuperView ​W3光学3D表面轮廓仪

随着半导体制造技术的发展，8 inch和12 inch晶圆已成行业主流，为适应现代化智能制造工厂生产管理需求，中图仪器在SuperView W1光学3D表面轮廓仪基础上进行升级，推出了新一代用于半导体行业大尺寸晶圆自动化检测的SuperView ​W3光学3D表面轮廓仪。

深圳市中图仪器股份有限公司成立于2005年，致力于全尺寸链测量仪器及设备的研发、生产和销售。

中图仪器坚持以技术创新为发展基础，拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队，历经20年的技术积累和发展实践，研发出了基础计量仪器、常规尺寸光学测量仪器、微观尺寸光学测量仪器、大尺寸光学测量仪器、常规尺寸接触式测量仪器、微观尺寸接触式测量仪器、行业应用检测设备等全尺寸链仪器及设备，能为客户提供从纳米到百米的测量解决方案。
中图仪器的销售和服务网点遍及全国三十多个省、市、自治区，产品远销欧、美、东南亚等海外市场，坚持为客户提供高质量的产品和服务。
中图仪器还将继续专注于测量检测技术的发展，自强不息、知难而上、勇于创新，为中国制造技术的快速发展贡献力量！

随着半导体制造技术的发展，8 inch和12 inch晶圆已成行业主流，为适应现代化智能制造工厂生产管理需求，中图仪器在SuperView W1光学3D表面轮廓仪基础上进行升级，推出了新一代专用于半导体行业大尺寸晶圆自动化检测的SuperView W3光学3D表面轮廓仪。

SuperView W3光学3D表面轮廓仪，为半导体行业微观检测量身打造，具有多个优点：

1.大300*300mm的行程，可适配12inch及以下的所有尺寸的晶圆；

2.同时兼容12inch及以下规格的真空吸盘，一台设备，即可适用于多条产线；

3.可编程自动化测量，使用“低倍搜索，高倍测量”的方式，可以快速实现多区域的定位测量。

SuperView W3光学3D表面轮廓仪您值得拥有！

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