S100/S200/S300 国产源表搭建激光二极管LD的LIV特性测试实验

普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心，结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，并且降低了测试成本。

武汉普赛斯仪表自主研发的台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等，填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。

武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成行业标杆。

普赛斯仪表www.whpssins.com

武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括：华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等，公司旨在为光电器件生产企业提供服务，针对产线生产的痛点问题，模拟现实应用环境，进行半导体光器件性能指标生产监测和测试，实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点，从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。

 

LIV 即光电特性，是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中，为降低生产成本同时增加产品吞吐量，快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。

 

根据Laser Diode工作原理，通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试，技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试，同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对，大大增加了系统的复杂程度，影响了测试精度和数据可靠性。

 

普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心，结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，并且降低了测试成本。

需要测试的参数：

驱动电流I,正向压降Vf

光功率Po

阈值电流Ith

拐点Ikink,背光电流Idark

需要仪器列表：

S型国产源表

积分球

可变光源

软件

 

高校相关专业

微电子，材料专业

有关国产源表搭建激光二极管LD的LIV特性测试实验的更多信息请咨询一八一四零六六三四七六
联系我们：

单位名称：武汉普赛斯仪表有限公司

网站：

单位地址：武汉市东湖开发区光谷大道308号光谷动力绿色环保产业园8栋2楼

：陶女士

联系：

          

工作QQ：1993323884

邮箱：

公众号：whpssins_com

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-9072877.html