HS-PH-SE 光谱椭偏仪

合能阳光是一家硅材料检验仪器及服务提供商，提供全面的硅料、单晶硅片、多晶硅片等成套检验设备及最优解决方案。同时，拉单晶生产所需的辅料也是我公司主营范围之一。

北京合能阳光新能源技术有限公司是一家集科、工、贸为一体的光伏高科技公司。
近年来，随着太阳能行业的飞速发展，导致硅材料极度紧张，硅材料价格也不断上涨，使得客户在选用制造过程用的相关辅料耗材时，极为慎重，对于太阳能耗材的要求越来越高。合能阳光新能源技术有限公司在太阳能耗材、仪表、设备方面积累了多年的经验，为客户提供了高品质的产品和优质的服务。

每一张定单的背后都包含着合能阳光人做事的原则：
------及时发货
------优质包装
------专业服务

我们所提供的不仅是产品，还将为您提供技术支持，我们在这个行业中的技术积累，使我们能够为用户解决问题，这也是我们引以为骄傲的角色。
 

谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。



光谱椭偏仪-产品特点

■连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■更简便快捷的样品准直方法
■软件具备丰富的材料数据库
■允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质
■全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
■功能强大的光谱椭偏测量与分析软件



光谱椭偏仪-技术指标

■光源：氙灯
■光斑直径：1-3mm
■入射角范围：20°到90°,5°/步
■波长范围：350-850nm，250-1100nm，250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■波长精度：1nm
■测量时间: < 8s（取决于测量模式和粗糙度）
■样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片,其他尺寸
■测量精度：0.02nm
■折射率：0.0002,100nmSiO2 on Si
■厚度测量范围：0.01nm ~ 50um
■消光比：10-6

光谱椭偏仪-可选配

■CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm
■样品显微镜
■高稳定性消色差补偿器
■透射测量架
■XY移动样品台

光谱椭偏仪-典型客户

美国，欧洲，及太阳能及半导体客户。

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