HS-CLT 少子寿命测试仪 (HS-CLT)

品牌HenergySolar型号HS-CLT 测量范围1-6000 【网址】http://www.henergysolar.com/product/hs-c

合能阳光是一家硅材料检验仪器及服务提供商，提供全面的硅料、单晶硅片、多晶硅片等成套检验设备及最优解决方案。同时，拉单晶生产所需的辅料也是我公司主营范围之一。

北京合能阳光新能源技术有限公司是一家集科、工、贸为一体的光伏高科技公司。
近年来，随着太阳能行业的飞速发展，导致硅材料极度紧张，硅材料价格也不断上涨，使得客户在选用制造过程用的相关辅料耗材时，极为慎重，对于太阳能耗材的要求越来越高。合能阳光新能源技术有限公司在太阳能耗材、仪表、设备方面积累了多年的经验，为客户提供了高品质的产品和优质的服务。

每一张定单的背后都包含着合能阳光人做事的原则：
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我们所提供的不仅是产品，还将为您提供技术支持，我们在这个行业中的技术积累，使我们能够为用户解决问题，这也是我们引以为骄傲的角色。
 

品牌	HenergySolar	型号	HS-CLT
测量范围	1-6000

【 网址】http://www.henergysolar.com/product/hs-clt.htm

合能阳光少子寿命测试仪(HS-CLT)，是一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1μs到6000μs，硅料电阻率下限达0.1Ω.cm(可扩展至0.01Ω.cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。



少子寿命测试仪-产品特点
■测试范围广：包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命测量。
■主要应用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等。
■适用于低阻硅料少子寿命的测量，电阻率测量范围可达ρ＞0.1Ω?cm（可扩展至0.01Ω?cm），完全解决了微波光电导无法检测低阻单晶硅的问题。
■全程监控动态测试过程，避免了微波光电导（u-PCD）无法观测晶体硅陷阱效应，表面复合效应缺陷的问题。
■贯穿深度大，达500微米，相比微波光电导的30微米的贯穿深度，真正体现了少子的体寿命的测量，避免了表面复合效应的干扰。
■专业定制样品架zui大程度地满足了原生多晶硅料生产企业测试多种形状的硅材料少子寿命的要求，包括硅芯、检磷棒、检硼棒等。
■高，价格远低于国外国外少子寿命测试仪产品，大程度地降低了企业的测试成本。



少子寿命测试仪-推荐工作条件
■温度：23±2℃
■湿度：60%~70%
■无强磁场、不与高频设备邻近



少子寿命测试仪-技术指标
■测试材料：硅半导体材料 - 硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅块、硅片等，锗半导体材料。
■少子寿命测试范围 :1μs-6000μs
■可测低阻硅料下限： 0.1Ω.cm, 可扩展到 0.01Ω.cm
■激光波长： 1.07μm
■激光在单晶硅中的贯穿深度： 500μm
■工作频率： 30MHz
■低输出阻抗，输出功率＞ 1W
■电源：～220V 50Hz 功耗＜50W



少子寿命测试仪-典型用户
北京，浙江，四川，河北，河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶客户




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