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RTS-8型四探针测试仪

北京中时维兴仪器设备经营中心

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：北京

型号：RTS-8型

更新时间：2017-06-05

浏览次数：1325

公司地址：北京市丰台区大红门阳光左右间西侧甲6号1027

15910585107 夏佳丽(女士)

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产品简介

RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。

公司简介

北京中时维兴仪设备经营中心随公司成立于2016年，坐落于北京市丰台区，专业供应及销售仪器，仪表，电子产品，机械设备，金属制品，家用电器，办公用品，实验仪器，气体检测，水质分析、食品安全、无损检测以及各类实验用仪器，客户遍及各大领域。

公司秉承着以人为本的管理思想和精益求精的品质要求，不断的完善自我，提高自我，勇敢地面对激烈的市场竞争，以先进的技术、严格的管理、过硬的质量、低廉的价格、一流的服务赢得众多客户的亲睐。

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产品说明

RTS-8型四探针测试仪

恒流源电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档；可连接电脑使用也可以不连接电脑使用，连接电脑使用带自动测量功能，自动选择适合样品测试电流量程；高速并口通讯接口，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5秒（在0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）；

RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国   A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
    仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
    仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
    本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

RTS-8型四探针测试仪前面板

RTS-8型四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析

技　术　指　标：

测量范围	电阻率：10-5～105 Ω.cm(可扩展)；方块电阻：10-4～106 Ω/□(可扩展)；电导率：10-5～105 s/cm；电阻：10-5～105 Ω；
可测晶片直径	140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；
恒流源	电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；显示：四位半红色发光管数字显示；性、超量程自动显示；
四探针探头基本指标	间距：1±0.01mm；针间缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿(总力)；
四探针探头应用参数	(见探头附带的合格证)
模拟电阻测量相对误差 ( 按JJG508-87进行)	0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整机测量zui大相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5%
整机测量标准不确定度	≤5%
测试模式	可连接电脑测试也可不连接电脑测试
软件功能（选配）	软件可记录、保存、打印每一点的测试数据，并统计分析测试数据zui大值、zui小值、平均值、zui大百分变化、平均百分变化、径向不均匀度、并将数据生成直方图，也可把测试数据输出到Excel中，对数据进行各种数据分析。软件还可选择自动测量功能，根据样品电阻大小自动选择适合电流量程档测试。
计算机通讯接口	并口，高速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。
标准使用环境	温度：23±2℃；相对湿度：≤65%；无高频干扰；无强光直射；

显微镜和 USB 接口 CCD 摄像头共存的监视方式ST-102E 型探针测试台与测试仪器配接后可选配ST-102E 型探针测试台

可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。

技术指标：
工作台面 370mm*245mm
载物台直径 4"
可选二种放大倍数 *14-90 倍连续变倍；
*17.5-112.5 倍连续变倍；
监视方式显微镜和 USB 接口 CCD 摄像头共存的监视方式
光学参数手轮调焦范围：60mm；升降调焦范围：200mm；
旋转台粗调范围：360°；微调范围：±10°；zui小刻划：1°；
铜盘直径：Φ85mm；缘盘直径：Φ102mm
三维探针座
探针座 X、Y、Z 方向调节范围：±3.25mm，分辨率±2µ；
三维探针座在工作台面可任意位置固定，由磁性开关控制；
多可布三维探针座 6 个；
探针臂伸出长度：60mm；探针长度：40mm；
探针探针材质硬质合金，针尖曲率半径 2µm；标准配置：主工作台、显微镜、USB 接口 CCD 摄像头、三维微调座 2 个、探针臂 2 支、探针 2 支。
可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。可按用户的实际需求进行订做。