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smart-1 I-V曲线跟踪仪曲线两侧开短路测试

仪准科技（北京）有限公司

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企业认证：

价格：电议

所在地：北京

型号：smart-1

更新时间：2023-11-10

浏览次数：1313

公司地址：北京市中关村软件园

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产品简介

I-V曲线跟踪仪曲线两侧开短路测试失效分析电流电压测试1.低的漏电流测量(例如光二管或太阳能电池的暗电流测量)；2.CMOS,双性组件,BiCMOS IC 的半导体参数测量；3.开/短路试验。

公司简介

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

专业从事电子产品分析测试设备研发、生产、销售，以及国外**设备代理,探针台probe 开封机decap 微光显微镜emmi 红外显微镜 iv自动曲线量测仪失效分析可靠性测试FIB,切割研磨机rie，电子显微镜sem等

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产品说明

I-V曲线跟踪仪 I-V曲线跟踪仪曲线两侧开短路测试失效分析电流电压测试

主要用途

验证及量测半导体电子组件之电性参数及特性,比如电压-电流、电容-电压特性曲线,

性能参数

a)512 channel的测试通道；

b)Force范围：电压：0~7V ；电流：0~500mA

c)量测范围：电压：0~10V ；电流：0~500mA

d)测量精度：电压：1mV ；电流：10nA；

应用范围

1.低的漏电流测量(例如光二管或太阳能电池的暗电流测量)；

2.CMOS,双性组件,BiCMOS IC 的半导体参数测量；

3.开/短路试验。

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-7904028.html

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