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金相显微镜失效分析样品外观形貌检测

仪准科技（北京）有限公司

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所在地：北京

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更新时间：2023-11-10

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公司地址：北京市中关村软件园

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产品简介

金相显微镜，失效分析，样品外观形貌检测主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

专业从事电子产品分析测试设备研发、生产、销售，以及国外**设备代理,探针台probe 开封机decap 微光显微镜emmi 红外显微镜 iv自动曲线量测仪失效分析可靠性测试FIB,切割研磨机rie，电子显微镜sem等

展开

金相显微镜，失效分析，样品外观形貌检测，

主要用途

样品外观、形貌检测。

性能参数

a)总放大倍数为50x-1000x；

b)目标Z空间：0-25mm；

c)具有明场、暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷；

d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式

应用范围

主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。

本页产品地址：http://www.yi7.com/sell/show-7904423.html

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