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价格:电议
所在地:北京
型号:JKZC-ST4
手机:18210063398
电话:010-60414386
更新时间:2024-05-06
浏览次数:2509
公司地址:北京顺义北小营
我们为你提供材料表征测量的一系列产品:
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一表征:压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪
2、ZJ-4型d33测量仪
3、ZJ-5型积层压电测试仪
4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪
5、ZJ-7型高温压电测试仪
★压电极化装置
1、PZT-JH10/4压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片)
2、PZT-JH10/8压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
3、PZT-JH20/8高压电极化装置(20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
4、PZT-FJH20 /3高压真空,空气极化装置(20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样)
★ 压电制样装置
1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)
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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统
1、ZT-4C型综合铁电测量系统
2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪
3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统
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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪
1、BKTEM-Dx热电性能分析系统
2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统
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第四表征 介电材料测试系统
1、 常温介电测量系统,常温介电材料测试仪
2、 高温介电测量系统,高温介电材料测试装置
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第四表征磁性材料测试系统
JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪
关键词:电阻,电阻率,四探针,半导体
一、产品概述
JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
二、符合:
1、符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、
2、符合GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
3、符合美国 A.S.T.M 标准
二、产品应用:
1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;
2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻
3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)电阻率/方阻
4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻
5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量
6、可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻
二、基本技术参数
1、 测量范围
电 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
2、测量方式:自动或手动
3、基本精度:±0.1/%
4、四探针探头:
(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 0~2kg 可调
(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 0~0.6kg 可
5. 电源:198V -242V(AC),47.5Hz -63Hz
6、操作环境: 0°C -40°C ,≤90%RH
7、外形尺寸:200mm(长)×220 mm(宽)×100mm(高)
8、数据传输方式;USB
9、软件方式:人性化分析软件界面,数据自动生成