XRF-2000L，XRF-2000H，XRF-2000PCB X射线镀层测厚仪

X荧光射线膜厚与元素(RoHS)分析仪XRF-2000(R)系列H-TypeL-TypePCB-Type介绍：X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度

我司是精密测试仪器代理商，为在中国独家代理美国Thermo-Electron X-射线测厚仪及德国ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。以下我们公司其他主要产品： 　　新加坡QTEST CIMS 特性阻抗测试仪 　　韩国Micro Pioneer XRF-2000系列测厚仪 　　美国Solar Metrology 太阳能薄膜电池厚度测量仪 　　日本KYORITSU WAK-水质离子测试包 　　美国WALCHEM（禾威）电镀药液自动添加系统 　　美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪 　　美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪 　　美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品 　　英国JENWAY分光光度计 　　美国Kocour库仑测厚仪、侯氏槽、阴/阳极片、离心机等 　　德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品 　　美国INNOV-X伊诺斯RoHS分析仪(手提式:XRF 6500，台式:Ray-tek1800) 　　美国ECI电镀药液分析系统 　　美国DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA温湿度记录仪 　　日本SHIMADZU(岛津)分光光度计、X射线荧光分析仪 　　日本IWAKI工业用泵 　　韩国K-Mac ST4080-OSP 光学测厚仪 　　美国SPELLMA******??电源供应器 　　日本KETT磁感/涡流涂层测试仪 　　俄罗斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式线路板孔铜测厚仪 　　美国RPS可焊性测试仪 　　美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪 　　美国EXTECH多用途万用表 　　美国CECO板材厚度测试仪、铜箔剥离强度仪 　　一直致力于为PCB厂商，电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性能的仪器和优质的售后服务。【shanghai yilang yiqi youxiangongsi】

X荧光射线膜厚与元素(RoHS)分析仪 XRF-2000 (R)系列 
H-Type
L-Type
PCB-Type
  
 介绍：

   X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：

1. H-Type: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。

4. R-Type: 结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。
 
应用:

  测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)选配。
 
行业:

  五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。
 
特色:

 非破坏，非接触式检测分析，快速精准。

 可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。

 兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。

 标准配备 : 溶液分析软件，可以分析电镀液成份与含量。

 准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。

 移动方式： 全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。

 雷射 自动对焦，配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。

 独特2D与3D或任意位置表面量测分析。

 元素成份与含量分析1ppm侦测极限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析。(选配)

 标准ROI软件搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

 光学20X影像放大功能，更能精确对位。

 单位选择：mils、uin、mm、um。

 优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势。

 仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。

 测试方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。 
 

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