BA-100-B X荧光镀层测厚仪测试原理

X荧光镀层测厚仪测试原理：博曼团队在精密XRF制造领域拥有超过30年的经验。XRF技术中许多具有影响力的研创都源自博曼技术开发实验室。今天博曼的销售和服务合作伙伴为全球四大洲二十余个国家的客户提供服务（如：美国、中国、中国台湾、韩国、日本、南亚、东南亚、英国、德国、波兰、意大利、法国、匈牙利、俄罗斯、土耳其

深圳市鼎极天电子有限公司 位于深圳宝安, 主要经销的分析仪器与设备.

我司是美国博曼 (Bowman) 测厚仪中国华南区总经销，拥有专业的销售及维修工程师，专注于BA-100系列测厚仪在国内的销售与维护。为各地的电路板（PCB、FPC）、LED、SMD、半导体、连接器、端子、紧固件、汽车、五金等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等广大客户提供快捷、良好的售前及售后服务和技术支持。

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X射线荧光法原理与产生：美国博曼X荧光镀层测厚仪

X荧光镀层测厚仪测试原理：入射X射线光子轰击内层电子，将电子逐出原子形成空穴，由外层电子来填充这个空穴。高能量的电子来填补逸出的电子（空穴），两层轨道的能量差以二次X射线光子释放，产生荧光。Moseley（莫斯莱）发现荧光 x 射线的能量与原子序数有关 E=K (Z-C)2 ，每个元素的荧光都有自己的能量成为特征 X 射线。BowmanX 射线装置利用 X 射线荧光原理测量镀层和成份。样品被来自射线管的射线轰击，产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过 XRF 的强度我们可以样品的厚度及每个元素的成份。X 射线人眼是看不见的。需要设备将 X 射线转换成我们可以理解和处理的信号以便我们可以从 x 射线中提取信息。此设备称为探测器。探测器与数字脉冲器（将 x 射线转为电信号）。

X荧光镀层测厚仪测试原理：原子核的内层电子（K层与L层）受到外界能量激发时会向外跃迁，从而在K层或L层形成空穴，较外层电子向内部跃迁，这时外层电子所携带的能量与内层电子所携带的能量之间的能量差会以电磁波的形式释放出来，这个射线被称为二次射线或X荧光射线。X荧光光谱法中的X射线产生示意图，产生的X射线主要分为K系与L系，其中，K系为K层电子被逐出，L系为L层电子被逐出，所产生的空穴均可被外层任一电子填充。对于K层来说，由L层跃迁到K层的电子所辐射出来的X射线叫做Kα射线，由M层跃迁到K层的电子所辐射出来的X射线叫做Kβ线。

博曼测厚仪应用于：半导体行业涉及的厚度测试

1. 引线框架 (Ag/Cu, Au/Pd/Ni/Cu, Ag/FeNi）

2. IC 载板( Au/NiP/Cu,Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu)

3. 晶圆凸点下金属化层UBM( Ti/Cu/Si,Au/NiP/Cu)

4.  凸点无铅焊料成分分析（SnAg, SnAgCu,SnBi)

1. 光刻胶

2. 氧化膜

3. 氮化膜

博曼测厚仪应用于：线路板PCB行业涉及的厚度测试

1 . Au/Ni/Cu PCB

2 . Au/Ni P/Cu PCB            ENIG （满足IPC-4552A规范）

3 . Au/Pd/Ni P/Cu PCB      ENEPIG （满足IPC-4556规范）

4 . Ag/Cu                        （满足IPC-4553A规范）

5 . Sn/Cu                        （满足IPC-4554规范）

6 . Sn Pb/Cu

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X荧光镀层测厚仪测试原理博曼测厚仪应用于：五金行业（汽车、连接器、五金卫浴、通讯）

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